2008年4月15日，由中国标准化研究院组织召开的“标准在产品检测、认证和市场准入中的应用研讨会”在北京外国专家大厦顺利召开。来自检验检疫机构、检测机构、科研机构、企业以及标准化机构的120余名代表参加了会议，会场气氛热烈，座无虚席。中国标准化研究院王平副总工、国家标准馆宋寅平馆长、郭德华副馆长、美国材料试验协会（ASTM）国际合作副总裁Teresa J. Cendrowska女士、ASTM中国首席代表刘斐先生、美国建筑规范委员会（ICC）国际运营副总裁Drew Azzara先生，以及Intertek项目经理John Mulder先生出席会议并进行了专题讲座。

会议伊始，王平副总工和Teresa J. Cendrowska女士向大会致辞。随后，王平副总工和宋寅平馆长分别就“中国标准化”和“标准文献共享服务网络建设项目进展”做了报告。三位美国专家就不同专题进行了讲解：Teresa J. Cendrowska女士重点介绍了“美国及ASTM的标准化发展动态”和“ASTM检测能力验证项目和多方实验室项目及其执行情况”，强调了ASTM标准制定的原则及其工作目标，以及ASTM标准对最新科技动态的快速反映；Drew Azzara先生就“ICC规范与认证”和“通过使用标准、检测和认可进入市场”做了报告，Drew Azzara先生指出ICC是全球最大的从事建筑安全规范和标准制定的非赢利性组织，并针对ICC评估服务（ICC ES）和国际认可服务（IAS）进行了详细的介绍；John Mulder先生针对“实验室在检测产品和认证认可中对标准的应用”和“通过使用标准、检测和认可进入市场”两个题目进行了相关报告。会议期间，刘斐先生也就“ASTM标准的制定与应用”这一专题进行了介绍。最后，国家标准馆郭德华副馆长就“国内外标准文献资源及其检索技术”进行了讲解。

会议由郭德华副馆长主持，与会代表对各位专家的讲座反映热烈，提问积极踊跃，很多代表就讲座内容以及实际工作中遇到的相关问题进行提问，各位专家均给予了详细和明确的解答。

此次研讨会为国内各地各行业用户，提供了与国外标准化机构及其专家面对面交流的机会，很多参会代表都表示，以前对于涉美贸易的认证、检测和实验室选择比较困惑，特别是难以将标准与认证、测试、市场准入相结合，此次会议使他们深入了解美国在产品生产、检测及市场准入中标准的应用情况以及标准与认证的相互关系，了解了国内外标准文献资源及其收集方法，为他们困惑已久的很多问题找到了解决方案。会议取得很好的成效，在和谐、友好、活跃的气氛中结束。